老化房，又叫燒機房，是針對高性能電子產(chǎn)品仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥、化工。
老化房與高溫試驗箱的區(qū)別：
在長期與用戶接觸中，經(jīng)常遇到用戶對于高溫試驗箱與老化房(燒機房)等指標(biāo)近似作用界限模糊的設(shè)備分不清的情況，在此做一個較系統(tǒng)的說明。
高溫試驗箱用于試驗樣品做高溫適應(yīng)性試驗及高溫應(yīng)力試驗，也可當(dāng)干燥箱用，但由于指標(biāo)差異大，干燥箱不能替代高溫試驗箱。
老化房一般用于產(chǎn)品出廠前的老練篩選，挑除前期失效工件。多用于電工電子產(chǎn)品。
高溫試驗箱現(xiàn)行執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》
老化房沒有專用的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，一般參照GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》執(zhí)行
二、指標(biāo)的異同
高溫試驗箱
溫度波動度：≤1℃
溫度梯度：≤2℃
溫度偏差：±2℃
老化房
由于老化房沒有產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，且使用溫度不高，一般參照高溫試驗箱指標(biāo)：
溫度波動度：≤1℃
溫度均勻度：≤2℃(按GB/T11158-98的指標(biāo))
溫度偏差：±2℃
換氣量：可調(diào)
三、結(jié)構(gòu)
由于高溫試驗箱溫場要求較高，一般采用層流設(shè)計。
老化房一般要考慮試品架或試品車的情況。
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