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簡(jiǎn)要描述:武漢尚測(cè)高低溫濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱用于模擬受試樣品用于高濕條件,失效模式為因潮濕引起的電氣故障,例如,印制電板因潮濕產(chǎn)生的漏電流。附加失效模式為殼內(nèi)潮氣流動(dòng)的“呼吸"效應(yīng),當(dāng)受試樣品殼內(nèi)空氣溫度下降時(shí),外部高濕氣體就會(huì)被吸人。按GB/T 2423. 4中的規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)。
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高低溫濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱用于模擬受試樣品用于高濕條件,失效模式為因潮濕引起的電氣故障,例如,印制電路板因潮濕產(chǎn)生的漏電流。附加失效模式為殼內(nèi)潮氣流動(dòng)的“呼吸”效應(yīng),當(dāng)受試樣品殼內(nèi)空氣溫度下降時(shí),外部高濕氣體就會(huì)被吸人。按GB/T 2423. 4中的規(guī)定進(jìn)行試驗(yàn)。
高低溫濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱是武漢尚測(cè)試驗(yàn)設(shè)備有限公司生產(chǎn)的一款可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱,看可以在高溫低濕、低溫高濕的環(huán)境下模擬
惡劣的環(huán)境。具體試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)如下:
試驗(yàn)1:按GB/T 2423. 4/IEC 60068 -2 - 30,試驗(yàn)Db進(jìn)行試驗(yàn)
試驗(yàn)2:按GB/T 2423. 34/IEC 60068 -2 - 38,試驗(yàn)Z/AD進(jìn)行試驗(yàn)
試驗(yàn)3:按GB/T 2423. 34/IEC 60068 -2- 38,試驗(yàn)Z/AD要求和
■高低溫濕熱循環(huán)試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
溫度范圍:0~150℃﹨-20~150℃﹨-40~150℃﹨-60~150℃﹨-70~150℃﹨-80~150℃(高溫200℃可選)
溫度均勻度: ≤2℃
溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃
溫度偏差: ≤±2℃
濕度范圍:20%~98%R.H
溫度偏差:±2,3%R.H
升溫時(shí)間:常溫~150℃ 40分鐘內(nèi)
降溫速率: 0.7~1.3℃/min
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